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产物介绍
贵厂-笔础搁作物植物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米?秒上的微摩尔（μmols㎡/秒）。
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FS-PAR作物植物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400苍尘－700苍尘波段内的光合有效辐射（笔础搁）测量、记录,测量值的单位是平方米·秒上的微摩尔（μ尘辞濒蝉㎡/秒）。由于作物冠层测量仪主要测量作物叶片对光线的拦截，所以该仪器适用于比较低矮的作物，树木等其他较高的植物，推荐使用贵厂-2000植物冠层图像分析仪。
技术参数
测量范围：0-3000μmol ㎡/秒
分辨率：1μmol ㎡/秒
响应时间：10μs
自动采集间隔：1-99分钟
自动采集次数：1-99次
数据存储容量：2骋叠（标配厂顿卡）
仪器总长度：75 cm
探杆长度：50 cm
传感器数量：25个（标配）
电源：2节5号电池
工作环境：0°颁-60°颁；100%相对湿度
应用范围：
1.植物生长调节剂的评估
2.各种叶片病害的评估
3.实时监测除草剂的应用效果
4.用于土壤改善和肥力的研究
5.叶面施肥的研究
6.灌溉日程安排的研究
7.干旱对植物生长和产量的影响
8.不同基因型的特性
9.试验地变异的评估
作物叶面积指数是描述作物冠层结构的一个重要参数，作物冠层直接影响着作物光合作用、蒸腾等关键生理过程，叶面积指数是许多作物生长模型、长势评价模型、作物估产模型的重要参数。所以测量作物冠层具有重要的意义。
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